上海光學儀器廠

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    上海光學儀器廠 五十年歷史,重鑄輝煌

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    上海光學儀器廠,曾經為發展民族工業,填補國內空白,奠定了國家光學工業的系列化, 并先后與德國蔡司-歐波同(ZEISS-OPTON)、徠卡(LEICA)等國際著名光學公司合作生產各類精密光學儀器。

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光潔度類儀器

JDG-S2 數顯立式光學計

JDG-S2  數顯立式光學計

數顯立式光學計JDG-S2是以直接法或比較法測量工件的尺寸。它可對五等量塊、量棒、鋼球、線形及平行平面狀精密量具和零件的外型尺寸作精密測量。本儀器頭部亦可作為一個獨立體,在科研、生產過程控制及在線檢測 等方面,對被測件作位移測量,是檢測部門常用的計量儀器。

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9J 光切法顯微鏡

9J  光切法顯微鏡

光切法顯微鏡9J是以光切法測量零件加工表面的微觀不平度。其能判別國家標準GB1031-1995所規定測量范圍1.0~80微米即原標準▽3-▽9級表面光潔度。對于表面劃痕、刻線或某些缺陷的深度也可用來進行測量。光切法特點是在不破壞表面的狀況下進行的。是一種間接測量方法。

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光譜投影儀8W

光譜投影儀8W

光譜投影儀8W為攝譜儀成套設備之一,主要用于對攝譜儀所攝下之光譜底板通過投影放大,與標準譜板或已知濃度的光譜進行定性或半定量分析。也可作為一般投影放大用。原理光源發出的光線被反射鏡、聚光鏡射至底板上,照明了直徑為15毫米的面積。聚光鏡光路由鍍鋁的平面反射鏡折轉55°。

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6JA 干涉顯微鏡

6JA  干涉顯微鏡

干涉顯微鏡6JA是用來測量精密加工零件(平面、圓柱等外表面)光潔度的儀器,也可以用來測量零件表面刻線,鍍層等深度。儀器配以各種附件,還能測量粒狀,加工紋路混亂的表面,低反射率的工件表面,同時還能將儀器安置在工件上,對大型工件表面進行測量。

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測微光度計9W

測微光度計9W

測微光度計9W是攝譜儀器的成套設備之一。測微光度計又名顯微光度計或黑度計,主要用途是對各種攝譜儀所攝下之譜片進行黑度測量,以確定被測元素的含量完成光譜定量分析工作。還可用于照相膜層之密度檢查和感光能力檢查,以及配合其它光學儀器作象差測量等。

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